Statistical leakage estimation of double gate FinFET devices considering the width quantization property

  1. Gu, J.
  2. Keane, J.
  3. Sapatnekar, S.
  4. Kim, C.H.
Revista:
IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems

ISSN: 1063-8210

Any de publicació: 2008

Volum: 16

Número: 2

Pàgines: 206-209

Tipus: Article

DOI: 10.1109/TVLSI.2007.909809 GOOGLE SCHOLAR

Objectius de Desenvolupament Sostenible

Font de les dades: Scopus