Statistical leakage estimation of double gate FinFET devices considering the width quantization property
- Gu, J.
- Keane, J.
- Sapatnekar, S.
- Kim, C.H.
ISSN: 1063-8210
Datum der Publikation: 2008
Ausgabe: 16
Nummer: 2
Seiten: 206-209
Art: Artikel
ISSN: 1063-8210
Datum der Publikation: 2008
Ausgabe: 16
Nummer: 2
Seiten: 206-209
Art: Artikel