Statistical leakage estimation of double gate FinFET devices considering the width quantization property

  1. Gu, J.
  2. Keane, J.
  3. Sapatnekar, S.
  4. Kim, C.H.
Aldizkaria:
IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems

ISSN: 1063-8210

Argitalpen urtea: 2008

Alea: 16

Zenbakia: 2

Orrialdeak: 206-209

Mota: Artikulua

DOI: 10.1109/TVLSI.2007.909809 GOOGLE SCHOLAR

Garapen Iraunkorreko Helburuak

Datuen iturria: Scopus