Statistical leakage estimation of double gate FinFET devices considering the width quantization property
- Gu, J.
- Keane, J.
- Sapatnekar, S.
- Kim, C.H.
ISSN: 1063-8210
Ano de publicación: 2008
Volume: 16
Número: 2
Páxinas: 206-209
Tipo: Artigo
ISSN: 1063-8210
Ano de publicación: 2008
Volume: 16
Número: 2
Páxinas: 206-209
Tipo: Artigo