Confidence scalable post-silicon statistical delay prediction under process variations
- Qunzeng, L.
- Sapatnekar, S.S.
ISSN: 0738-100X
ISBN: 9781595936271
Año de publicación: 2007
Páginas: 497-502
Tipo: Aportación congreso
ISSN: 0738-100X
ISBN: 9781595936271
Año de publicación: 2007
Páginas: 497-502
Tipo: Aportación congreso