In situ observations of dc and ac electromigration in passivated Al lines

  1. Castaño, E.
  2. Maiz, J.
  3. Flinn, P.
  4. Madden, M.
Revista:
Applied Physics Letters

ISSN: 0003-6951

Any de publicació: 1991

Volum: 59

Número: 1

Pàgines: 129-131

Tipus: Article

DOI: 10.1063/1.105551 GOOGLE SCHOLAR lock_openAccés obert editor
Font de les dades: Scopus