In situ observations of dc and ac electromigration in passivated Al lines

  1. Castaño, E.
  2. Maiz, J.
  3. Flinn, P.
  4. Madden, M.
Revista:
Applied Physics Letters

ISSN: 0003-6951

Ano de publicación: 1991

Volume: 59

Número: 1

Páxinas: 129-131

Tipo: Artigo

DOI: 10.1063/1.105551 GOOGLE SCHOLAR lock_openAcceso aberto editor
Fonte de datos: Scopus