Analysis of the Results of Accelerated Aging Tests in Insulated Gate Bipolar Transistors

  1. Astigarraga, D.
  2. Ibanez, F.M.
  3. Galarza, A.
  4. Echeverria, J.M.
  5. Unanue, I.
  6. Baraldi, P.
  7. Zio, E.
Revista:
IEEE Transactions on Power Electronics

ISSN: 0885-8993

Año de publicación: 2016

Volumen: 31

Número: 11

Páginas: 7953-7962

Tipo: Artículo

DOI: 10.1109/TPEL.2015.2512923 GOOGLE SCHOLAR
Fuente de los datos: Scopus