Laser interference lithography for nanoscale structuring of materials: From laboratory to industry
- Rodriguez, A.
- Echeverría, M.
- Ellman, M.
- Perez, N.
- Verevkin, Y.K.
- Peng, C.S.
- Berthou, T.
- Wang, Z.
- Ayerdi, I.
- Savall, J.
- Olaizola, S.M.
ISSN: 0167-9317
Año de publicación: 2009
Volumen: 86
Número: 4-6
Páginas: 937-940
Tipo: Artículo