Thermal slip sources at the extremity and bevel edge of silicon wafers

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Revista:
Journal of Applied Crystallography

ISSN: 0021-8898 1600-5767

Año de publicación: 2011

Volumen: 44

Número: 3

Páginas: 489-494

Tipo: Artículo

DOI: 10.1107/S0021889811012088 GOOGLE SCHOLAR