Statistical leakage estimation of double gate FinFET devices considering the width quantization property

  1. Gu, J.
  2. Keane, J.
  3. Sapatnekar, S.
  4. Kim, C.H.
Revista:
IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems

ISSN: 1063-8210

Año de publicación: 2008

Volumen: 16

Número: 2

Páginas: 206-209

Tipo: Artículo

DOI: 10.1109/TVLSI.2007.909809 GOOGLE SCHOLAR
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